441. Transmission electron microscopy : a textbook for materials science
پدیدآورنده : Williams, David Bernard
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Materials -- Microscopy,، Transmission electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
W56
442. Transmission electron microscopy : a textbook for materials science
پدیدآورنده : Williams, David B. )David Bernard(
موضوع : ، Materials-- Microscopy,، Transmission electron microscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
443. Transmission electron microscopy and diffractometry of material
پدیدآورنده : / Brent Fultz, James Howe
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials, Microscopy,Transmission electron microscopy,X-ray diffractometer,Electronic books
رده :
E-BOOK
444. Transmission electron microscopy and diffractometry of material
پدیدآورنده : / Brent Fultz, James Howe
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials - Microscopy,Transmission electron microscopy,X-ray diffractometer
رده :
TA417
.
23
.
F85
2008
445. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
پدیدآورنده : Brent Fultz, James M. Howe
موضوع : Materials- Microscopy,Transmission electron microscopy,X-ray diffractometer
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
446. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
پدیدآورنده : Fultz, Brent, 5591-
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Microscopy ، Materials,، Transmission electron microscopy,، X-ray diffractometer
رده :
TA
417
.
23
.
F85T7
2008
447. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
پدیدآورنده : Fultz, Brent
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Materials - Microscopy,، Transmission electron microscopy,، X-ray diffractometer
رده :
TA
417
.
23
.
F85
448. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
پدیدآورنده : Fultz, B. )Brent(
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : Microscopy ، Materials,، Transmission electron microscopy,، X-ray diffractometer
رده :
TA
417
.
23
.
F85
2013
449. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
پدیدآورنده : Fultz, Brent
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Materials - Microscopy,، Transmission electron microscopy,، X-ray diffractometer
رده :
TA
417
.
23
.
F85
2008
450. Transmission electron microscopy : diffraction, imaging, and spectrometry
پدیدآورنده : C. Barry Carter, David B. Williams )eds.(
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Transmission electron microscopy.
رده :
QH
212
.
T39
2016
451. Transmission electron microscopy : methods and application
پدیدآورنده : Racker, Darlene K.
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Transmission electron microscopes , Electron microscopy - Technique
رده :
QH
212
.
T7
R33
452. #Transmission electron microscopy of materials
پدیدآورنده : #Gareth Thomas, Michael J. Goringe
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع : Electron microscopy ،Materials -- Testing
رده :
#
TA
،#.
T48
453. Transmission electron microscopy of minerals and rocks /
پدیدآورنده : Alex C. McLaren.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Mineralogy, Determinative.,Transmission electron microscopy.,Durchstrahlungselektronenmikroskopie,Durchstrahlungselektronenmikroskopie.,Gestein,Gestein.,Microscopie électronique en transmission.,Mineral,Mineral.,Mineralogie,Mineralogie.,Mineralogy, Determinative.,Transmission electron microscopy.
رده :
QE369
.
M5
M36
1991
454. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures
پدیدآورنده : / Andreas Rosenauer
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors, Analysis,Semiconductors, Microscopy,Transmission electron microscopy
رده :
QD139
.
S34
,
R67
2003
455. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures
پدیدآورنده : / Andreas Rosenauer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Semiconductors- Analysis,Semiconductors- Microscopy,Transmission electron microscopy
رده :
QD139
.
S34
,
R67
2003
456. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures
پدیدآورنده : Andreas Rosenauer
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (طهران)
موضوع : Semiconductors, Analysis,Semiconductors, Microscopy,Transmission electron microscopy
457. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures :
پدیدآورنده : Andreas Rosenauer.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Semiconductors-- Analysis.,Semiconductors-- Microscopy.,Transmission electron microscopy.,33.68 surfaces, interfaces and thin layers.,51.39 materials testing, properties of materials: other.,Durchstrahlungselektronenmikroskopie,Durchstrahlungselektronenmikroskopie.,Física moderna.,Nanostruktur,Nanostruktur.,Semiconductors-- Analysis.,Transmission electron microscopy.,Verbindungshalbleiter,Verbindungshalbleiter.
رده :
QD139
.
S34
R67
2003
458. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state
پدیدآورنده : Rosenauer, Andreas, 4691-
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Analysis ، Semiconductors,Microscopy ، Semiconductors,، Transmission electron microscopy
رده :
QD
139
.
S34R6
459. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures :an analysis of composition and strain state]CD[
پدیدآورنده : Rosenauer, Andreas, Andreas Rosenauer
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : Analysis ، Semiconductors,Microscopy ، Semiconductors,، Transmission electron microscopy
رده :
CD
1747-49
460. Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis
پدیدآورنده : Reimer, Ludwig
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Transmission electron microscopy
رده :
QH
212
.
T7
R43
1997
